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1 Orthoclase surface structure dissolution measured in situ by x-ray reflectivity and atomic force microscopy. [科技报告]

作者:Sturchio, N. C.;Fenter, P.;Cheng, L.;等

发布日期:2000

关键词:Atomic force microscopy;Dissolution;...

发布机构:Technical Information Center Oak Ridge Tennessee

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2 Selective Catalysis Utilizing Bifunctionalized MCM-41 Mesoporous Materials. [科技报告]

作者:

发布日期:2005

关键词:Catalysts;Catalysis;...

发布机构:Technical Information Center Oak Ridge Tennessee

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3 Topological Insulators at Room Temperature. [科技报告]

作者:Zhnag, H.;Liu, C.;Qi, X.;等

发布日期:2008

关键词:Electronic structure;Energy gap;...

发布机构:Technical Information Center Oak Ridge Tennessee

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4 Seeing the Magnetic Monopole through the Mirror of Topological Surface States. [科技报告]

作者:Qi, X.;Li, R.;Zang, J.;等

发布日期:2008

关键词:Magnetic monopoles;Surface properties;...

发布机构:Technical Information Center Oak Ridge Tennessee

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5 Mti science, data product and ground data processing overview. [科技报告]

作者:Szymanski, J.

发布日期:2001

关键词:Data processing;Spatial resolution;...

发布机构:Technical Information Center Oak Ridge Tennessee

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6 Calibration of a vertical-scan long trace profiler at MSFC. [科技报告]

作者:Gubarev,, Kester,, Takacs,

发布日期:2001

关键词:Mirrors;Measuring instruments;...

发布机构:Technical Information Center Oak Ridge Tennessee

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